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THE RELIABILITY OF STRAINED SI MOSFETS ON VARIED TECHNOLOGY PLATFORMS von Rimoon Agaiby (2010, Taschenbuch)
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Titel: THE RELIABILITY OF STRAINED SI MOSFETS ON VARIED TECHNOLOGY PLATFORMS | Zusatz: Reliability of Advanced Si Technology | Medium: Taschenbuch | Autor: Rimoon Agaiby | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: 176 S. | Ausstattung / Beilage: Paperback | Sprache: Englisch | Seiten: 176 | Maße: 220 x 150 x 11 mm | Erschienen: 23.05.2010 | Anbieter: Buchbär.