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Code Based Test Data Compression for SoC Testing Optimization of Time, Powe 1858 - Bild 1 von 1

Code Based Test Data Compression for SoC Testing von Usha Sandeep Mehta (2012, Taschenbuch)

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The solution is test data compression. The increasing test power leads to system reliability issues. For ATPG generated binary data with large number of don t care bits, run length codes and statistical codes are most suitable for IP cores.