Study of Defect States in Silicon Carbide von Padmaja Patnaik (2013, Taschenbuch)

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Titel: Study of Defect States in Silicon Carbide | Medium: Taschenbuch | Autor: Padmaja Patnaik (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: 200 S. | Ausstattung / Beilage: Paperback | Sprache: Englisch | Seiten: 200 | Maße: 220 x 150 x 12 mm | Erschienen: 02.08.2013 | Anbieter: Buchbär.