Multiscale process monitoring in Nanomanufacturing von Sihem Ben Zakour (2012, Taschenbuch)

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Titel: Multiscale process monitoring in Nanomanufacturing | Zusatz: Case Study: Nano-wafer in CMP process | Medium: Taschenbuch | Autor: Sihem Ben Zakour | Auflage: Aufl. | Sprache: Englisch | Seiten: 92 | Anbieter: Buchbär.