Bild 1 von 1
Standardbild
Bild 1 von 1
Standardbild
Multiscale process monitoring in Nanomanufacturing von Sihem Ben Zakour (2012, Taschenbuch)
Preis:
€ 50,90
(inkl. MwSt.)
Kostenloser Versand
Rücknahmen:
1 Monat Rückgabe. Käufer zahlt Rückversand. Für eBay Plus-Mitglieder ist der Rückversand im Inland kostenlos. Mehr erfahren.
Artikelzustand:
Titel: Multiscale process monitoring in Nanomanufacturing | Zusatz: Case Study: Nano-wafer in CMP process | Medium: Taschenbuch | Autor: Sihem Ben Zakour | Auflage: Aufl. | Sprache: Englisch | Seiten: 92 | Anbieter: Buchbär.